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哈密HS PA30-X相控阵检测仪

哈密HS PA30-X相控阵检测仪

HS PA30-X是一款功能强大、具备应用多样性的超声波相控阵检测设备。

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产品概述

功能特点

→多能一体，兼容PA（TFM/PCI/PWI）、TOFD检测及A超检测功能。

→检测界面数据可视化，检测速度更快。

→仪器检测简单，相控阵晶片自动校准。

→为A/B/C/D/S/L/3D多视图角度显示检测结果，判断缺陷更简单。


技术参数

应用

适用于碳钢、不锈钢、合金钢、铜、铝等各种金属材质及非金属材质的板材、焊缝、铸件、锻件、管材等不同加工工艺及结构形态的内部多种缺陷(裂纹、夹杂、疏松、气孔等)的快速和准确检测、定位、评估和诊断。

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